삼성전자·SK하이닉스, HBM용 웨이퍼 공정에 '레이저 탈착' 도입 추진
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♣ 발행일 2024.07.08. ♣ 정보제공 국가나노기술정책센터 (nnpc.re.kr) ♣ 원문보기 국가나노기술정책센터 | 삼성전자·SK하이닉스, HBM용 웨이퍼 공정에 '레이저 탈착' 도입 추진 > 국내 (nnpc.re.kr) ● 삼성전자 및 SK하이닉스는 HBM용 웨이퍼 탈착(디본딩) 공정*을 메카니컬 디본딩**에서 레이저 방식으로 바꾸기 위해 협력사와 기술 개발을 진행하는 것으로 확인 * 웨이퍼 디본딩(Wafer Debonding) : 공정 중 얇아진 웨이퍼를 휘지 않게 부착한 임시 웨이퍼(글래스 소재 캐리어 웨이퍼)를 분리하는 작업 ** 메카니컬 디본딩(Mechanical Debonding) : 반도체가 만들어지는 메인 웨이퍼와 캐리어 웨이퍼를 접착제로 붙였다 칼날(블레이드)로 떼어내는 작업 ● 업계 관계자는 극한 공정 환경에 대응해 보다 강력한 접착제 사용이 필요해졌고, 이를 메카니컬 방식으로는 떼어낼 수 없어 안정적으로 분리하기 위해 시도하는 것이라 설명 ● 삼성전자는 엑시머 레이저를, SK하이닉스는 자외선(UV) 레이저 등 다양한 방식으로 검토 중이며, 레이저 디본딩은 D램 메모리 가장 하단에 시스템반도체 기반 ‘베이스 다이’가 적용되는 HBM4 16단부터 도입될 것으로 예상 ● 웨이퍼 디본딩 접착제는 미국 3M과 일본 신에츠화학, 닛산화학, TOK 등의 기업들이 주로 공급하고 있어, 이에 대응해 소재ㆍ장비 업체가 새로운 기술 및 제품 개발을 위해 성능 평가 등 활발한 협력을 추진 중 ※ 산학협력 동향에 등록되는 게시물은 외부 기관의 발간 자료 탐색을 통해 수집·등록되고 있습니다. ※ 따라서 등록되는 모든 게시물의 저작권은 해당 자료를 발간·등록한 기관에 있으며, 해당 기관의 저작권 정책을 준수하여야 함을 알려드립니다. |